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1.首先，无损装置主要利用X射线的穿透力。X射线波长短，能量大。当物质照射物体时，只会吸收一小部分X射线，而大多数X射线的能量会穿过物质原子的间隙，显示出很强的穿透力。
2.无损装置可以检测x射线穿透力与物质密度的关系，通过差异吸收可以区分不同密度的物质。这样，如果检测到的物体有不同的厚度、形状变化、不同的X射线吸收和不同的图像，就会产生不同的黑白图像。
3.可用于IGBT半导体检测、BGA芯片检测、LED灯条检测、PCB裸板检测、锂电池检测、铝铸件无损检测。
4.简单地说，使用无干扰的微焦点无损设备输出高质量的荧光透视图像，然后将其转换为平板探测器接收的信号。操作软件的所有功能只用鼠标完成，使用方便。标准高性能x光管可检测到5微米以下的缺陷，部分无损设备可检测到2.5微米以下的缺陷，系统可放大1000倍，物体可倾斜。无损设备可以手动或自动检测，检测数据可以自动生成。
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